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PARIO Plus 土壤粒徑自動分析儀

描述:PARIO Plus 土壤粒徑自動分析儀基于斯托克斯定律(Stokes´ law)計算粒徑分布 , 其測量范圍為 63~2 μm。PARIO 的測量方法基于成熟的比重計法或吸管法,采用壓力傳感器以 10s 間隔連續記錄土壤懸濁液中特定位置的壓力和溫度變化,獲得完整的土壤顆粒粒徑分布曲線。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2024-12-11
  • 訪問量:183
產品詳情/ PRODUCT DETAIL

標題:PARIO Plus 土壤粒徑自動分析儀

產品概述

PARIO Plus 土壤粒徑自動分析儀基于斯托克斯定律(Stokes′ law)計算粒徑分布 , 其測量范圍為 63~2 μm。PARIO 的測量方法基于成熟的比重計法或吸管法,采用壓力傳感器以 10s 間隔連續記錄土壤懸濁液中特定位置的壓力和溫度變化,獲得完整的土壤顆粒粒徑分布曲線。


產品簡介

PARIO Plus 土壤粒徑自動分析儀在 PARIO 的基礎上進一步提升,測量準確度和效率均大幅提升。

2017 年 METER 研發的革命性的土壤粒徑分析設備 PARIO 上市。對比傳統的粒徑分析方法 PARIO 表現出絕對優勢。傳統的比重計法(或吸管法)手工耗時 24 小時,費時費力易出錯,激光粒度儀法,設備昂貴,耗時長,且存在方法性偏差。PARIOPlus 設置好之后全程自動測量,僅需在測量結束時手動打開閥門。

測量時長縮短至僅需 2.5 小時,估計誤差低至 ±0.5%。PARIO Plus 從繁雜的實驗中解放科學家的雙手,全身心投入科學問題的研究。


測量原理

基于斯托克斯定律(Stokes′ law)計算粒徑分布 , 其測量范圍為 63~2 μm。PARIO 的測量方法基于成熟的比重計法或吸管法,采用壓力傳感器以 10s 間隔連續記錄土壤懸濁液中特定位置的壓力和溫度變化,獲得完整的土壤顆粒粒徑分布曲線。PARIO Plus 使用更精確的“擴展積分懸浮壓力法"(ISP+)(Durner et al., 2017)。另外,基于斯托克斯定律的 PARIO 不需要進行土壤特性的傳遞函數校正,而幾乎其它任何自動測量方法都要求進行這種校正,例如激光衍射法或圖像分析法。


主要特點

√ 測量速度快 設置好后,儀器運行僅需 2.5 小時。

√ 測量方法精準 估計誤差低至 ± 0.5%,低于任何傳統的粒徑分析方法。

√ 自動獨立運行 PARIO 允許無人值守,自動化操作,僅需在實驗結束時手動打開閥門。避免人工讀數和計算誤差。

√ 獲得高精度的連續粒徑分布曲線 與傳統方法測得少數一些離散時間點數據不同,PARIO 每 10 秒進行一次自動測量,并連續記錄懸浮液的壓力以及溫度變化。

√ 測量過程無擾動 不需要插入液體比重計,也不需要用移液管進行懸浮液的取樣,進而減少了對沉降的擾動。

√ 依據經典原理 根據斯托克斯定律(Stokes′ law)計算粒徑分布,**匹配傳統實驗前期準備工作流程。

√ 黏粒含量直接測量獲得

√ 依據溫度自動綜合計算粒徑分布

√ 簡單易用一體化 為了您能節省更多時間,PARIO 采用了簡便易用的一體化軟件解決方案,輕松實現數據查詢、可視化操作、數據的計算及導出。


產品技術參數

粒徑范圍:2 ~ 63 μm

質量分數檢測的近似誤差:PARIO Plus: ±0.5%;PARIO Classic: ±3.0%

壓力測量:準確度:±1.0 Pa;分辨率:±0.1 Pa

典型顆粒質量:25 ~ 50 g/ 1L 懸濁液

典型測量時長:PARIO Plus: 3 h;PARIO Classic: 8.0 h 測量間隔:10 s

黏粒含量估算:根據抽取樣品綜合顆粒質量獲得

砂粒含量估算:根據濕篩法測定結果得到

供電需求:USB 5 V/100 mA 電腦兼容:微軟 Windows 10

玻璃容器規格:高:450.0 mm;內徑:59.0 mm,外徑:67.5 mm;體積:1,000 cm3;材質:硼硅酸鹽玻璃 3.3

PARIO 儀器:高度:293.0 mm;直徑:80.0 mm ;材質:POM 塑膠原料和不銹鋼

懸濁液容積:1000 mL

工作溫度:15~35 ℃;典型:20℃

測量中允許的最大溫度變化:±1.5 ℃

需要額外測量的參數:PARIO Classic: 有機質含量 ( 如進行了有機質去除 );砂粒含量 ( 濕篩法 );總懸濁液中分散鹽的質量 

                                  PARIO Plus: 取樣測量干物質總質量;砂粒含量 ( 濕篩法 );總懸濁液中分散鹽的質量

纜線類型:USB 2.0;500 mA 用于接收端口

符合標準:生產制作遵循 ISO 9001:2015;EM ISO/IEC 17050:2010 (CE Mark)

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